全自動界面電位分析儀ZetaProbe 是目前使用最簡單，最準確的界面電位分析儀。樣品可以不用稀釋就可直接測量。樣品準備的濃度可高達60% V/Vo，即使是膏狀物，凝膠，膠結物，以及其他困難材料, 用ZetaProbe都可以直接測量。
傳統的測量技術需要先將樣品大量稀釋, 不但費時且因已改變樣品實際狀態甚或於稀釋過程遭受污染而使測量結果失真。 ZetaProbe專利的複頻電聲波( Multiple Frequency Electro-Acoustic )技術解決了這些問題。
儀器設計精巧，內建全自動滴定裝置，多用途感應探頭以及人性化操作軟體，使 Zeta電位的測量變得如此的簡單快速。全自動滴定裝置提供酸鹼滴定可快速判斷等電位點 (I so - electric point determination )以及定量濃度滴定提供最佳分散劑或絮凝劑選擇配方。 另外ZetaProbe亦 提供了其他分析儀器所沒有的特點, 包括奈米粒徑和電雙層扭曲(Double Layer distortion)的自動修正及電解質背景校正，非極性有機溶劑分散系統測量等功能，可完全呈現最準確 ZETA 電位分析結果，是針對奈米分散技術研發及生產品質控管最有效最準確的界面電位分析儀。
奈米中心-熱傳導分析儀
奈米中心-熱膨脹分析儀
奈米中心-熱重顯示差同步分析儀
奈米中心-有/無機材料薄膜能隙量測儀
奈米中心-橢圓儀 　
奈米中心-原位拉曼光譜儀 　
奈米中心-傅立葉轉換紅外線光譜儀
奈米中心-紫外光可見近紅外光光譜儀
奈米中心-螢光分光光譜儀
奈米中心-原子力顯微鏡 AFM 　
奈米中心-穿透式電子顯微鏡 TEM 　
奈米中心-掃瞄式電子顯微鏡SEM 　
奈米中心-X射線繞射儀 XRD 　
奈米中心-化學吸/脫附混合氣體質量控制器
奈米中心-奈米粉體熔融混練機
奈米中心-可攜式即時連續氣體分析質譜儀
奈米中心-高濃度超微粒徑分部儀 　
奈米中心-雷射粒徑分析儀
奈米中心-全自動界面電位分析儀
奈米中心-射頻磁控濺鍍機
奈米中心-振動樣品磁力計VSM
奈米中心-鐵電薄膜分析儀
奈米中心-S-parameter network analyzer
奈米中心-Switch/control system
奈米中心-半導體參數分析儀 I-V Curve
奈米中心-Agilent 4284A 精密型 LCR 錶
奈米中心-兩點探針系統 　
奈米中心-射頻阻抗分析儀
奈米中心-阻抗分析儀 C-V Curve
奈米中心-High resistant meter
奈米中心-高電阻測定儀 Milliohmmeter
奈米中心-高溫玻璃熔煉爐
奈米中心-低溫玻璃熔煉爐
奈米中心-氣氛燒結爐(BME)-1400度
奈米中心-1700度燒結爐
奈米中心-1400度燒結爐
奈米中心-快速退火爐 　
奈米中心-薄帶機
奈米中心-網版印刷機 　
奈米中心-噴霧造粒機
奈米中心-熱水均壓機 　
奈米中心-鑽石切割機 　
奈米中心-硬磁缽組
奈米中心-磨粉特殊耐腐蝕Cyclone上蓋
奈米中心-電動磨粉機
奈米中心-玻璃研磨機 　
奈米中心-旋鍍機