介電常數量測(高頻)使用辦法

XRF（X-射線螢光分析）是一種用於定量固體和液體樣品元素組成的非破壞性技術。X-射線可以用於激發樣品中的原子，誘發他們產生元素的特性X-射線，就可以對這些X-射線的強度和能量進行測定。

一、測定金屬薄膜的厚度可達到幾µm深
二、對薄膜厚度進行全晶片映射（最大300mm），帶有較高的精確度和準確性
三、對未知固體、液體和粉末的元素鑑定
四、金屬合金的鑑定

一.樣品規格：請洽中心電話詢問。

二.分析測試時，若發現送測樣品不合規定，樣品將被退回，但仍須收基本運費500元。

儀器放置於材資館三樓奈米光電磁材料技術研發中心，電話(02)27712171轉2758，檢測時間為週一至週五(國定例假日)上午八點至下午五點。